金升阳POL电源精准赋能老化测试

随着Chiplet、车规级芯片与高性能计算芯片渗透率持续提升， 半导体 测试需求迎来爆发式增长。老化测试作为筛除早期失效、保障芯片长期可靠性的关键环节，对设备供电系统提出严苛要求：不仅要确保长时间稳定运行，还需应对动态负载、高温环境等复杂挑战。面对长达1-7天的测试周期，如何在单位时间内完成更多测试任务，直接决定产线效率与测试成本。

金升阳 POL 电源 系列始于2018年，紧贴DOSA/POLA标准设计，融合 数字电源 技术，以其 高精度 、高密度、高效率的特性，成为低压大 电流 应用的优质可靠之选。

一、产品特点

01宽压可调，降本提效

宽范围输入电压：4.5-14.4 V DC ，输出电压可调：0.6-4.5 VDC。通过 上位机 快速调节输出，以满足各类低压DUT的测试需求，提升测试设备归一化程度，降低设备购置成本。

02大电流输出，满足并行需求

产品系列覆盖6-100A电流范围，满足多模块并行老化的应用需求。以KD12T-60A为例，若单个DUT负载为0.8-1A，可同时老化>60pcs DUT，测试效率大幅提升。

03超小体积，适配紧凑空间

体积低至12.20*12.20*8.6mm，完美适配老化测试夹具的极致空间需求。

04输出稳定，保障测试一致性

老化测试周期较长，对电源长期稳定运行要求严苛。本系列产品输出精度低至2mV，输出稳定可靠;在健全的质量管理体系下，产品通过高温老化、高低温工作(-40℃ / 85℃带 电工 作)、温度循环、温度冲击、绝缘耐压等长期可靠性测试，可为DUT提供稳定、一致性更高的测试条件。

05状态全周期监控，异常早发现

具备Power Good功能，主控设备可全周期监控电源状态，异常即刻反馈，有效避免因供电异常导致的测试失效。

二、产品应用