演讲回顾 - 意法半导体 | 携手普迪飞，打造测试单元自动化：从存量产线到黑灯

在普迪飞用户大会上， 意法半导体 （STMicroelectronics）测试研发负责人 Mas sim o Longaret ti 带来《 Te st Cell Automation: from Brown Field to Dark Factory》主题分享，深度揭秘 ST 与 普迪飞（PDF Solutions ）携手推进测试单元自动化的战略布局、技术架构与落地实践，为全球 半导体 企业从传统存量产线迈向全自动化黑灯工厂提供成熟路径与实战参考。

战略合作落地：从概念验证到规模化部署

演讲中，Massimo Longaretti 回顾了 ST 与普迪飞在测试自动化领域的紧密合作：

• 2023 年： 完成 STCC 测试单元 控制器 概念验证（POC）。
• 2025 年： 实现测试单元控制器全面部署，落地全设备集成、实时控制与用户体验优化。
  

面向存量产线（Brown Field）转型痛点，演讲明确了测试单元自动化的核心目标： 跨测试站点方案标准化、提升人机配比（MMR）与设备综合效率（OEE）、全面赋能 机器人 应用 ，最终构建全自动化黑灯工厂。同时梳理出影响人机配比的 关键环节 ：物料搬运、设备调试、机台辅助、复测 / 返工、测试后质量管控，直指自动化升级核心突破口。

直面行业痛点：构建自动化就绪体系

当前半导体测试自动化面临多重挑战： 庞大产品组合、多样技术流程、设备老化、本地遗留系统大量存在 。

为此，ST 与普迪飞共同构建自动化就绪标准：

测试设备：满足 SEMI MQTT/RitDB 标准

分拣机 / 探针台：硬件支持机器人物料交接，软件符合 SEMI SECS-GEM

工厂层面：完善物流、安全、实时物料调度与监控系统

同时，ST 将设备自动化合规度纳入投资矩阵，推动供应商满足集成标准，并依托普迪飞灵活可扩展的解决方案，实现存量产线与黑灯工厂的无缝衔接。

技术架构：模块化、可扩展、全场景覆盖

基于普迪飞技术底座，双方打造 分层级测试单元自动化架构 ，支持：

近实时数据流与指令流高效传输

离线数据采集、ATE 控制器、全功能测试单元控制器多级部署

覆盖内部厂区与外包测试场景

提供 OEE 计算、异常检测、实时监控、远程控制、机器人调度等能力

三大核心应用案例，彰显自动化价值

1

复测 / 返工流程优化

通过控制器规则实现：自动禁用异常测试触点、良率衰退提前预警、按可修复性自动重分类、低修复率批次自动跳过复测，大幅减少无效测试，提升数据质量与生产效率。

2

设备调试问题智能处理

实时检测接触 电阻 等异常，支持机台暂停、异常工位禁用、自动治具清洁等即时动作，提前拦截不良品，避免报废、工时浪费与问题重复发生。

3

MES 远程集中控制

依托普迪飞 工厂自动化模块（FAM） ，实现 MES 直接下发指令，测试单元控制器协同调度测试机与分拣机，完成远程启停、自动调试，彻底摆脱现场人工依赖，为黑灯工厂奠定核心基础。

结尾：战略合作展望

演讲最后强调，ST 与普迪飞已建立长期战略合作伙伴关系，共同打造 高度模块化 、 可扩展的自动化框架 ，持续提升存量产线效率与品质，稳步落地全自动化测试单元，加速黑灯工厂战略目标实现。

本次分享立足产业真实痛点，融合技术架构、落地路径与实战成果，为半导体测试环节数字化、智能化转型提供清晰、可落地的实践方案。

未来，普迪飞将继续以领先的数据与 AI 技术为底座，联合意法半导体等全球龙头企业，深化测试单元自动化与供应链协同能力，助力全球半导体产业迈向更高效、智能、柔性的智造新时代。